40GHｚ 镀金导电钻石系列
适合BGA（最大2410 balls）测试。
适合无铅焊锡、有氧化膜等待测物测试。
间隔为"0"电感、"0"电容、阻抗増幅小于1％ ，可以测试40GHｚ+高频。
测试寿命10万次（信号强度无劣化）
可以测试到15Ａ的大电流（待测Pad直径10mil时）。
适合Burn-in老化测试。
可以进行40GHz高频测试插座的设计及制作。
产品照片
详细规格
| 电气特性 | ≧40GHz 帯域（インサーション損失）～40GHz戻り損失 |
| 接点规格 | 采用化学电镀 |
| 10-20μm 导电钻石 | |
| 10μ"镀金 | |
| 接点最小间隔10μm | |
| RoHS、无铅标准 | |
| Pin数 | ＞2000 |
| 维护保养 | 接点表面可以再次研磨、或超声波洗净 |
| 信赖性 | 10万次（信号强度无劣化） |
| 弹力 | 電気的特性を保持するためにパッド当たり10-15ｇの圧力 |
| 电流 | 15A/Φ10mil Pad |
| 适用温度 | -60℃～200℃（卡普顿薄膜） |
※规格变动不另行通知
