半导体测试用PCR(高频70GHz以上)

优秀的高频特性,测试频率可达70GHz以上。

最小测试间隔0.1mm。

接触阻抗安定、平均20mΩ。

适合Burn-in老化测试(-50~+180℃)。

额定电流10A(0.5mm2/Pad)(TPSPCR-127~TPSPCR-065)

结构说明

PCR_tespro.jpg

RCR寸法説明_tespro.jpg

标准规格

产品型号 最小间隔(mm) 间隙※1(mm) 最小Pad面积※2(mm2) 最小Pad高度 ※3(mm) 厚度(mm)
TPSPCR-127 1.27 0.51 0.46 0.07112 0.38
TPSPCR-100 1.00 0.40 0.28 0.07112 0.25
TPSPCR-080 0.80 0.32 0.18 0.05334 0.22
TPSPCR-065 0.65 0.26 0.12 0.05334 0.17
TPSPCR-050 0.50 0.20 0.071 0.03556 0.14
TPSPCR-040 0.40 0.16 0.045 0.03556 0.11
TPSPCR-030 0.30
0.12 0.025 0.02667 0.09
TPSPCR-020 0.20 0.08 0.011 0.01778
0.06
TPSPCR-010 0.10
0.04 0.0028 0.01778 0.05

※1、指待测Pad表面的间隙。

※2、指两侧的待测Pad接触部分面积。

※3、指两侧的待测Pad的高度。

※规格变动不另行通知



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