半导体测试用PCR（高频70GHｚ以上）
优秀的高频特性，测试频率可达70GHz以上。
最小测试间隔0.1mm。
接触阻抗安定、平均20mΩ。
适合Burn-in老化测试（-50～＋180℃）。
额定电流10A（0.5mm2／Pad）（TPSPCR-127～TPSPCR-065）
结构说明
标准规格
| 产品型号 | 最小间隔（mm） | 间隙※1（mm） | 最小Pad面积※2（mm2） | 最小Pad高度 ※3（mm） | 厚度（mm） |
| TPSPCR-127 | 1.27 | 0.51 | 0.46 | 0.07112 | 0.38 |
| TPSPCR-100 | 1.00 | 0.40 | 0.28 | 0.07112 | 0.25 |
| TPSPCR-080 | 0.80 | 0.32 | 0.18 | 0.05334 | 0.22 |
| TPSPCR-065 | 0.65 | 0.26 | 0.12 | 0.05334 | 0.17 |
| TPSPCR-050 | 0.50 | 0.20 | 0.071 | 0.03556 | 0.14 |
| TPSPCR-040 | 0.40 | 0.16 | 0.045 | 0.03556 | 0.11 |
| TPSPCR-030 | 0.30 |
0.12 | 0.025 | 0.02667 | 0.09 |
| TPSPCR-020 | 0.20 | 0.08 | 0.011 | 0.01778 |
0.06 |
| TPSPCR-010 | 0.10 |
0.04 | 0.0028 | 0.01778 | 0.05 |
※1、指待测Pad表面的间隙。
※2、指两侧的待测Pad接触部分面积。
※3、指两侧的待测Pad的高度。
※规格变动不另行通知
