测试探针・IC测试插座・精密检测治具的先锋企业-日本泰普株式会社

概要

适用元件：高频/模拟信号/电流

适用封装：QFN,DFN,QFP,SOP

通过Rolling接触测试方式，出了实现自清洁功能外，还带来各种优秀的测试性能。

・接触安定

・初期不良率低

・优秀的电气特性

・长寿命MTBA（Mean Time between Assists）

・便于维护

・测试成本低

接触测试pin仕样

―无光泽镀锡仕样：大弹力、对应自清洁功能

―镀镍・钯合金电镀仕样：低弹力（可减小待测物的磨损）

―温度：－４０～+20０℃

降低待测Pad的损伤

・测试Pin和待测Pad以Rolling方式接触，从而降低了对待测Pad的磨损。

SET→未产生接触弹力

TEST→产生接触弹力

・打痕0.008mm（1,000,000次测试后）

测试插座结构

MINO PIN规格

	MINO220	MINO250	MINO110
Element type
Contact Length	2.53mm	1.73mm	1.30mm
Insertion loss	-1ｄB＠22GHz	-1ｄB＠28GHz	-1ｄB＠35GHz
Return loss	-20ｄB＠7.5GHz	-20ｄB＠11.5GHz	-20ｄB＠14GHz
Inductance	0.45ｎH	0.36ｎH	0.28ｎH
Capaciance	0.23pF	0.19pF	0.16pF
Resistance	<30mΩ	<30mΩ	<30mΩ
Environmental	-40℃～200℃	-40℃～200℃	-40℃～200℃
Contact Wipe	0.17mm	0.17mm	0.13mm
Travel	0.20mm	0.20mm	0.15mm
Contact Force	35g	35g	40g
Current	4A	3.5A	3A
Package Lead Pitch	≧0.35mm	≧0.35mm	≧0.35mm

Grounding仕样

下压模组

适用于QFN,QFP的高性能测试插座。可达到非常高的良品率。

下压触头

适用于封装尺寸3mm以下测试插座。可实现平稳安定的接触测试。

※规格变动不另行通知