测试探针・IC测试插座・精密检测治具的先锋企业-日本泰普株式会社

伴随着半导体及各种电子元件的小型化、高性能化要求，需要满足相应测试需求的IC测试插座。

日本泰普可以推荐适合各种特性测试需求的垂直导电胶，并使用垂直导电胶设计制作IC测试插座。

可以设计制作IC测试插座专用PCB

用途

各种类IC测试

极小间距IC测试

PCB to PCB测试

种类/特征

镀金金属线Martix系列垂直导电胶式测试插座

・可测试极小间距

・可用于半导体、高频电子元件的接触测试

・良好的测试使用寿命

・适合CPU、高频滤波器等各种产品的测试

・适合BGA测试

金属颗粒接点FM系列垂直导电胶式测试插座

・优秀的高频特性

・可测试小间距：0.3mm-1.27mm

・大电流测试具有良好的使用寿命

・实现简单更换，维护方便

半导体检查用PCR式测试插座

・优秀的高频特性，测试频率可达70GHz以上

・极小间距：0.1mm

・适合Burn-in老化测试（-50℃～+210℃）

镀金导电钻石系列测试插座

・适用于多Pin数BGA测试插座

・适合用于无铅焊锡球及刺破酸化膜

・可用于40GHz高频测试